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读出子系统历史无关配置集.md

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+# 修订记录
+|版本|修订日期|修订原因|修订内容|修订人|
+|:-|:-|:-|:-|:-|
+|v0.1|2025/10/27|统一格式|初始版本|郭成|
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 # 读出系统历史无关的功能配置项
+## 前言
+
 本文以常用的超导量子比特读出操作为例，
 将读出操作可能涉及到的相关功能拆解成最小功能项，
 并给出对每个功能项的历史无关配置集。
@@ -11,6 +19,31 @@
 本文所指的`历史无关配置`限定为上图中历史无关实验中的**实验配置**项，
 而与对读出系统的初始化（例如寄存器复位、ADC、DAC、PLL等自动校准）、
 外部参数的校准（例如通信链路校准、系统间同步、回环延时补偿）等操作不在本文讨论范围。
+## 目的与范围
+本文档的目的是介绍读出芯片激励产生和采集处理相关控制，
+用户可依据本文档用例在任意实验状态下完成对应实验，
+本文档作为开放文档供大家阅读。
+
+## 阅读对象
+本文档的预期读者是所有使用本芯片的用户以及对该芯片工作原理感兴趣的读者。
+
+## 文档概述
+本文档首先介绍了测控系统总体的编程对象和规范，
+针对读出相关的三种类型通道的编程进行了详细介绍。
+读出三类通道中，EXC和ACQ通道控制较为复杂，其包含MCU编程控制。
+针对这两个通道，本文详细介绍了MCU码字定义、
+寄存器控制和相关存储区配置。
+
+## 引用文档
+|文档编号|标题|版本|
+|:-|:-|:-|
+|TODO|读出子系统编程控制模型|V1.0|
+
+## 术语定义
+|名字|全称|解释|
+|:-|:-|:-|
+|EXC|Excitation|读出激励生成发送通道|
+|ACQ|Acquisition|读出回波采集处理通道|
 
 # 激励通道（EXC）
 
@@ -888,7 +921,7 @@ exit x0, x0, 0
 |配置项|值|说明|
 |:-|:-|:-|
 |pump_freq|FCW|输出频率控制字，freq = FCW*1000|
-|pump_power|PCW|PCW范围[-1300,-200],码值与输出功率正相关|
+|pump_power|PCW|PCW范围[-1100,-300],码值与输出功率正相关|
 |pump_enable|32'h11|使能pump通道模拟输出|
 
 ### 配置示例
@@ -948,39 +981,3 @@ Pump通道连续输出功能本身无需编程MCU，
 pump信号保持持续输出。
 ![sim_pump_2](assets/sim_pump_2.png)
 
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-# 附录
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-## 附录.1 参数扫描测试
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-参数扫描测试为了提高测试效率，
-采用MCU实时修改寄存器来更新参数。
-以下是mcu的测试程序
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-@import "sweep_test.asm"
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-### 扫相测试用例
-<测试设置描述>16个频点
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-**测试结果如下**
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-<结果及结论描述>
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-### 扫频测试用例
-16个频点
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-### 扫幅测试用例
-16个频点同时扫，使用寄存器控制
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-## 附录.2 系统功能验证
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-### 多比特并行读出功能
-该测试同时采集读出波形、解模IQ数据、态数据、态统计数据，
-以验证不同截断数据的正确性。
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-### 参数快速切换功能
-该测试以不同参数，死时间≤50 ns的间隔